基于隶属概率算法的新产品开发风险因素诊断  

作　　者：尚庆琛[1] 覃正[1] 

机构地区：[1]上海财经大学信息管理与工程学院,上海200433

出　　处：《统计与决策》2008年第21期48-50,共3页Statistics & Decision

摘　　要：文章从企业风险管理和控制的角度出发,提出了一种利用历史数据对新产品开发中的风险因素进行诊断的方法。该方法通过多因素条件下单因素影响的隶属概率算法,能够帮助企业更客观地找出阻碍新产品开发成功的关键因素,从而使企业在资源有限的条件下,更有针对性地进行持续风险管理和控制。

关 键 词：新产品开发 风险诊断 风险因素 

分 类 号：F272[经济管理—企业管理]