SOC微处理器核测试技术研究  

Brief Introduce Testing Technique of SOC Microprocessor Core

作　　者：于祥苓[1] 李响[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110032

出　　处：《微处理机》2008年第4期15-16,共2页Microprocessors

摘　　要：介绍了SOC中微处理器核的几种测试方法(并行测试法,串行测试法,测试接口控制器(TIC)法和内建自测试法)和SOC微处理器核的调试支持,并着重介绍了其中测试接口控制器(TIC)法和内建自测试法两种方法的具体实现。This paper introduces several testing techniques （parallel testing technique, serial testing technique, testing technique of testing interface controller（TIC） and build -in self testing technique）and debugging surport of SOC microprocessor core, furthermore emphasize concrete realizition of two testing techniques as testing technique of testing interface controller（TIC）and build- in self testing technique.

关 键 词：微处理器核 内建自测试 扫描 

分 类 号：TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]