检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:翁寿松[1]
机构地区:[1]无锡市罗特电子有限公司,江苏无锡214001
出 处:《电子工业专用设备》2008年第12期34-36,共3页Equipment for Electronic Products Manufacturing
摘 要:2007年9月英特尔推出全球首款32nm SRAM,2007年11月IBM推出32nm SRAM;2007年12月台积电推出32nm测试芯片。业界认为,2009年下半年量产32nm芯片。32nm芯片将采用193浸没式光刻与双重图形,高k电介质/金属栅极,超低k电介质,高kSOI等技术。为了使双重图形技术用于32nm节点,ITRS2006修正版提出了具体的要求。2007年ASML推出XT:1900I,2008年尼康推出NSR-S611C,以用于32nm光刻工艺。
关 键 词:32 nm工艺 193 nm浸没式光刻 双重图形 光刻设备
分 类 号:TN305.7[电子电信—物理电子学]
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