Y波导调制器耦合处在低温冲击下的ANSYS模拟  

ANSYS Simulation of Y-waveguide Modulators' Coupled Field under Low-temperature Shock

作　　者：王羽[1] 张小玲[1] 吕长志[1] 张光沉[1] 王同庆[2] 

机构地区：[1]北京工业大学电控学院,北京100021 [2]合肥工业大学土木工程学院,安徽合肥230000

出　　处：《半导体光电》2008年第6期844-846,850,共4页Semiconductor Optoelectronics

基　　金：北京工业大学青年科研基金资助项目(13700281);北京工业大学研究生科技基金项目(ykj-2006-416)

摘　　要：使用ANSYS有限元分析软件,对Y波导调制器在受到从室温降至-55℃的低温冲击时,光纤与波导耦合处的应力分布和弹性位移进行了模拟。将计算结果与实验数据进行了对比。分析表明,由于材料性质的差异导致耦合处的受温形变是其低温下工作参数退化的主要原因之一,为器件温度特性的研究提供了有效参考。The stress distribution and elastic deformation of the Y-waveguide coupled field are simulated by using ANSYS analying software, at which the Y-waveguide modulators are under low-temperature shock. And the simulation results are compared with experimental dates. The analysis shows that the distortion under changing temperatures of the coupled field caused by different characters of the materials is one of the key reasons for degradation of parameters under low temperature.

关 键 词：Y波导调制器 ANSYS模拟 低温冲击 

分 类 号：TN252[电子电信—物理电子学]