微波消解-电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定甜玉米中的痕量元素  

Analysis of trace elements in corn by inductively coupled plasma-mass

作　　者：江莉莉[1] 刘良忠[1] 战锡林[2] 马谦[1] 

机构地区：[1]武汉工业学院食品科学与工程学院,武汉430023 [2]武汉工业学院分析测试中心,武汉430023

出　　处：《食品科技》2009年第1期243-244,247,共3页Food Science and Technology

摘　　要：采用微波消解前处理样品,电感耦合等离子体质谱检测,以In作为内标物进行基体效应的补偿,同时测定了甜玉米、去胚甜玉米、甜玉米胚中的V、Cr、Co、Ga、Cd、Sn、Pb7种元素的含量。结果表明:所建立的方法简便、快速、准确,对于所测元素,标准曲线的相关系数r均大于0.99990,相对标准偏差小于4.73%,结果令人满意。The 7 kinds of trace elements V, Cr, Co, Ga, Cd, Sn, Pb in sweet corn samples were determined by ICP-MS after these samples were digested with microwave digestion. The relative standard deviations （RSD） for these elements are below 4.73%. The correlation coefficient of the standard curve of 7 elements were larger than 0.99990. The proposed method is operational, rapid, sensitive in sweet corn samples with satisfactory results.

关 键 词：ICP—MS 痕量元素 玉米 微波消解 

分 类 号：TS210.7[轻工技术与工程—粮食、油脂及植物蛋白工程]