双端RAM的多路测试  

作　　者：李明凯 

出　　处：《电信交换》1998年第1期34-36,共3页

摘　　要：文中针对双端ＲＡＭ在实际应用中存在的问题，介绍了一种对双端ＲＡＭ进行测试的多路测试方法，实践证明此种方法既简便，又有效。

关 键 词：双端RAM 多路测试 存储器 

分 类 号：TP333.062[自动化与计算机技术—计算机系统结构]