基于BP神经网络的电路最优测试集的生成设计  

The design of generating circuit optimal test set based on BP neural network

作　　者：张春仙[1] 张巍[1] 王妍[1] 

机构地区：[1]海军工程大学电气与信息工程学院,湖北武汉430033

出　　处：《微计算机信息》2009年第5期288-289,307,共3页Control & Automation

基　　金：项目名称:<基于磁调制二次谐波的微弱电流信号检测灵敏度分析与仿真研究>;颁发部门:湖北省自然科学基金(ABA360)

摘　　要：BP神经网络是目前用于模拟电路故障诊断的神经网络之一。本文应用BP神经网络完成了实际电路最优测试集的生成设计,验证了基于BP神经网络的最优测试集的生成的可行性和有效性。BP neural networks is one of the neural networks used for fault diagnosis of the analog circuit currently .In this paper, it completes the design of generating circuit optimal test set used BP neural network . The feasibility and effectiveness are verified on the design of generating circuit optimal test set based on BP neural network.

关 键 词：神经网络 电路 故障诊断 最优测试集 

分 类 号：TP216[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]