基于 PC 机的晶体管特性测试系统  

Transistor Characteristics Testing System Based on Microcomputer

作　　者：傅志仁[1,2] 杨衍明[1,2] 

机构地区：[1]中国科技大学近代物理系 [2]上海电信技术研究所

出　　处：《核电子学与探测技术》1998年第3期212-215,共4页Nuclear Electronics & Detection Technology

摘　　要：本文介绍一种基于ＰＣ机的晶体管特性测试系统的原理与实现This paper introduces the principle for realization of the teansistor characteristics testing system based on microcomputer. (

关 键 词：分辨率 模数变换 晶体管特性 PC机 测试系统 

分 类 号：TN320.7[电子电信—物理电子学]