Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索  

CHEMICAL SHIFTS OF CrKβ PEAKS IN XRF SPECTRA BY Si(Li) SPECTROMETRY

作　　者：彭良强[1] 魏成连[1] 刘亚雯[1] 张天保[1] 吴强[1] 

机构地区：[1]中国科学院高能物理研究所

出　　处：《光谱学与光谱分析》1998年第1期98-100,共3页Spectroscopy and Spectral Analysis

基　　金：科学院"八五"重点项目;核分析技术开放实验室资助

摘　　要：采用放射源２４１Ａｍ５９．６ｋｅＶγ射线分别激发金属Ｃｒ、Ｃｒ２Ｏ３和Ｋ２ＣｒＯ４，用Ｓｉ（Ｌｉ）谱仪比较测量其Ｋｘ射线的能量。实验表明Ｋ２ＣｒＯ４中ＣｒＫβ能峰相对于金属Ｃｒ有２．１２±０．２７ｅＶ的位移。The energies of CrKβ XRays in metel Cr,Cr2O3 and K2CrO4,which are excited respectively by γray 596keV from radioactive source 241Am,have been measured by Si(Li)spectrometry.It is shown in the experiment that the peak of Cr Kβ Xray in K2CrO4 shifts 212±027eV compared to that in metel Cr.

关 键 词：化学位移 X射线荧光 CrKβ谱线 铬 

分 类 号：O614.611[理学—无机化学]