半导体器件自适应测试参数调节  

作　　者：乐其中[1] 

机构地区：[1]上海交通大学电子信息与电器工程学院,上海200240

出　　处：《科技资讯》2009年第5期80-80,共1页Science & Technology Information

摘　　要：本文根据生产中实际案例,在DFT设计的基础之上,为Intel公司65nm NOR闪存芯片的一种特殊失效模式设计了一种独特的测试方法,同时提出了测试参数根据产品本征特性自适应调节的概念。

关 键 词：测试 DFT 自适应 测试效率及有效性 

分 类 号：TN3[电子电信—物理电子学]