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供职机构：上海交通大学电子信息与电气工程学院更多>>
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半导体器件自适应测试参数调节
《科技资讯》2009年第5期80-80,共1页乐其中 
本文根据生产中实际案例,在DFT设计的基础之上,为Intel公司65nm NOR闪存芯片的一种特殊失效模式设计了一种独特的测试方法,同时提出了测试参数根据产品本征特性自适应调节的概念。
关键词：测试 DFT 自适应 测试效率及有效性 
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