摄影光学 感光材料与性能测试  

出　　处：《中国光学》2005年第3期64-64,共1页Chinese Optics

摘　　要：TQ571．1 2005032083 卤化银微晶中光电子衰减谱的特性=Characteristics of photoelectron decay spectra in silver halide microcrystals [刊,中]／李晓苇(河北大学物理科学与技术学院．河南,保 定(071002)),韩理…∥光谱学与光谱分析．-2004,24 (7)．-787-789 采用光学与微波双共振技术。

关 键 词：性能测试 感光材料 摄影光学 卤化银 深度分布 最佳掺杂浓度 浅电子陷阱 河南 密度 晶体 

分 类 号：TB84[一般工业技术—摄影技术]