Microprobe将持续加大投资以服务中国客户  

出　　处：《集成电路应用》2009年第5期14-14,共1页Application of IC

摘　　要：Microprobe CEO Mike Slessor在日前接受《半导体国际》采访时表示，对于探针卡公司而言，为了达到更好的并行测试以跟随ATE设备不断提升的吞吐率，以及随着器件集成更高带宽功能需要测试更高的频率，更高的测试效率、更低的成本和更少的维护将是获得成功的三个关键标准。

关 键 词：《半导体国际》 客户 中国 服务 投资 并行测试 MIKE 测试效率 

分 类 号：TN3[电子电信—物理电子学] TP311.13[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]