一种利用光电流和光透过曲线测量电吸收调制器插入损耗因素的方法  

A method to analyze insertion loss of electroabsorption-modulator using photocurrent and power transmission vs.wavelength

作　　者：廖栽宜[1] 赵玲娟[1] 张云霄[1] 边静[1] 潘教青[1] 王圩[1] 

机构地区：[1]中国科学院半导体研究所 中国科学院半导体材料重点实验室,北京100083

出　　处：《物理学报》2009年第5期3135-3139,共5页Acta Physica Sinica

基　　金：国家自然科学基金(批准号:90401025);国家重点基础研究发展计划(973)项目(批准号:2006CB604901)资助的课题~~

摘　　要：提出一种新颖的方法用于测量电吸收调制器(electroabsorption modulator,EAM)各种因素造成的插入损耗.此方法仅需要测量波长相关的光电流(Iph-λ)和光透过功率(P-λ)的数据,通过最小二乘法拟合出结果.理论分析表明此方法较精确,实验表明测试结果与理论拟合结果自洽得很好.A novel method to ascertain diversified factors contributing to total insertion loss in an electroabsorption modulator is presented. Only the measurement of photocurrent and power transmission vs. wavelength is needed. It＇ s an accurate method, as shown by both theory analysis and experimental results.

关 键 词：电吸收调制器 插入损耗 吸收曲线 光生电流 物理学 

分 类 号：TN761[电子电信—电路与系统]