一种漂移室定位子性能反常现象的研究  

Study of the Unusual Performances of One Type DriftChamber Feedthrough

作　　者：王运永[1] 王少敏[1] 毛慧顺[1] 刘荣光[1] 李如柏[1] 李金[1] 宋晓非[1] 张健 张德红 金艳[1] 黄俊东 柯尊建高树琦 谢佩佩[1] 颜洁 顾建辉[1] 李德[1] 

机构地区：[1]中国科学院高能物理研究所

出　　处：《高能物理与核物理》1998年第5期398-405,共8页High Energy Physics and Nuclear Physics

摘　　要：研究了一种漂移室定位子性能的反常现象，它关系到定位子的使用寿命．着重测量了暗电流和随机噪声与时间、高压及温度的关系．The unusual performances of one type of drift chamber feedthrough have been studied. It is an aging effect. The relationship of dark current and random noise with time, high voltage and temperature has been tested.

关 键 词：漂移室 定位子 寿命 暗电流 随机噪声 谱仪 

分 类 号：TL817[核科学技术—核技术及应用]