NPN双极晶体管的ELDRS效应及退火行为  

作　　者：陆妩[1] 任迪远[1] 郑玉展[1,2] 王义元[1,2] 郭旗[1] 余学峰[1] 何承发[1] 

机构地区：[1]中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐830011 [2]中国科学院研究生院,100049

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》2009年第B10期90-93,共4页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

摘　　要：对国产NPN双极晶体管在不同剂量率下的辐射效应和退火特性进行了研究。结果显示:在不同剂量率辐照下,NPN晶体管的特性衰降均非常明显。不仅晶体管的过剩基极电流明显增大,直流增益迅速下降,其集电极电流也随辐照总剂量的增加而逐渐衰减,且低剂量率辐照下损伤更明显。本中对造成各种实验现象的损伤机理进行了分析。

关 键 词：NPN双极晶体管 ~60Coγ辐照 ELDRS 退火 

分 类 号：TN322.8[电子电信—物理电子学]