检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:郭阳春
机构地区:[1]福州三和精密轴有限公司,福建福州350015
出 处:《制造技术与机床》2009年第11期110-111,共2页Manufacturing Technology & Machine Tool
摘 要:某零件如图1所示,要求检测轴的两个小平面对于轴线的对称度在0.05mm以下。因该零件尺寸相对小且批量大,使用一般方法及检具测量困难,根据面对线对称度原理,利用数学等式变换测量基准,设计精密轴对称度检具,很好地解决了此类测量问题,现介绍如下。
关 键 词:对称度 检具 轴线 零件尺寸 测量基准 测量问题 小平面
分 类 号:TG83[金属学及工艺—公差测量技术] TG81
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