ICP-AES直接测定钨产品中杂质元素  

DIRECT DETERMINATION OF TRACE ELEMENTS IN TUNGSTEN PRODUCTS WITH ICP AES

作　　者：杨秀环[1] 汪丽[1] 唐宝英[1] 张展霞[1] 贺柏龄 李劲枝 彭彤彤 

机构地区：[1]中山大学化学系 [2]广东省进出口商品检验局

出　　处：《光谱学与光谱分析》1998年第5期576-579,共4页Spectroscopy and Spectral Analysis

基　　金：国家商检局资助

摘　　要：本文通过实验详细研究了钨产品中钨基体对杂质元素突出谱线的光谱干扰情况及基体效应，选择了基本上不受钨基体干扰的待测元素的分析谱线并利用单纯型加速法优化ＩＣＰ操作条件。建立了一种快速分析钨产品杂质元素的ＩＣＰ－ＡＥＳ法。用本法测定了三氧化钨标准样（ＢＹＧ１２０１－２，３，４号样），结果表明所建立的方法灵敏。A direct determination of Al,As,Ca,Cd,Co,Cr,Cu,Fe,Mg,Mn,Mo,Ni,Sn,Ti and V in tungsten products with ICP AES is presented.The influence of tungsten matrix is studied.Based on the selected optimum operating parameters,the feasibility of the proposed method is evaluated by analyzing three WO 3 National References.The results are satisfactory.

关 键 词：ICP AES 钨产品 杂质元素 金属钨 测定 

分 类 号：TG146.411[一般工业技术—材料科学与工程]