一种基于BERT的HT3裕量测试方法  

作　　者：王凌云[1] 

机构地区：[1]上海交通大学微电子学院,上海200240

出　　处：《科技与生活》2009年第22期13-13,共1页

摘　　要：HyperTransport高速集成电路的互连技术。本文针对HT30的裕量测试提出了基于BERT的测试方法，基于数理统计分析，通过调整接收端的CDRs偏离锁定位置测量对输入噪声的敏感度，在规定的测试时间内计算错误的比特数。该方法能提高测试效率和可靠性。在AMD平台的HT裕量测试中应用效果良好。

关 键 词：HYPERTRANSPORT 裕量测试 错误重发检测 时钟数据恢复 

分 类 号：TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]