电子元器件制造过程中非正态工艺参数的统计过程控制技术  

The Statistics Process Control of Nonnomal Distribution Parameters in the Manufacture of Electronic Parts

作　　者：黄玲[1] 赵文平[1] 游海龙[2] 

机构地区：[1]西安电子科技大学经济管理学院,陕西西安710071 [2]西安电子科技大学微电子学院,陕西西安710071

出　　处：《电子质量》2010年第1期38-40,共3页Electronics Quality

摘　　要：在制造过程中实施统计过程控制(SPC)技术,采用常规控制图其基本前提之一是工艺参数服从正态分布,但是在实际电子元器件制造中存在特殊工序,如封装工序等,其工艺参数不服从正态分布。文章针对非正态工艺参数的工艺过程控制,利用Box-Cox转换,将非正态工艺参数转换为正态,然后采用常规控制图,实现了非正态工艺参数的统计过程控制;结合模拟数据分析,结果显示该方法是有效性的、正确性的。In the statistics process Control of the manufacture process＋the one basic premise is the process paramenters obeying the hemal distribution using the tradtional control chart. In the electronic component manufacturing,the process parameters do not obey the the nomal distribution,for example packaging process.In this paper,the non-normal process parameters is transformed into the nomlal data using Box-Cox transformation;then the tradtionalcontrol chart is applied to the transformed datas .Combined with the simulation data analysis,the result shows that the method introduced in the paper is correct and valid,

关 键 词：电子元器件 统计过程控制 Box—Cox转换 非正态分布 

分 类 号：TN605[电子电信—电路与系统]