LabWindows/CVI在涂镀层测厚系统中的应用  

Application of Coating Plate Measuring Thickness System Based on LabWindows/CVI

作　　者：赵为松[1] 赵维树[2] 

机构地区：[1]安徽建筑工业学院机械与电气工程学院,安徽合肥230601 [2]安徽建筑工业学院管理工程系,安徽合肥230601

出　　处：《核电子学与探测技术》2009年第6期1512-1515,共4页Nuclear Electronics & Detection Technology

基　　金：国家质量监督检验检疫总局资助(KY200208A);安徽建筑工业学院硕士启动基金2006.11

摘　　要：针对目前涂镀层测厚系统存在的问题,由于虚拟仪器具有传统智能仪器无法比拟的优势,论文提出了基于虚拟仪器涂镀层测厚数据采集系统的设计思想。简要对涂镀层测厚系统进行了硬件设计,主要讨论以微控制器(ARM)为核心的涂镀层测厚系统的设计。特别讨论虚拟仪器的数据采集系统的设计。通过虚拟仪器能够实现对工作现场生产过程的实时监控、数据传输、实时处理、厚度曲线显示。该系统较好完成了涂镀层厚度中重要参数的实时全程控制,并且具有显示直观、反应迅速,性价比高等特点,因此具有一定的使用价值。In view of some problems existing in the system of the coating plate measuring thickness System, the paper puts forward a design conception to develop a system based on the LabWindows/CVI. It discusses coating plate measuring thickness System based on the ARM technology and virtual instruments. The system can realize direct some important parameter display and real-time detection. It also can achieve economical purpose etc. so this method has value in application.

关 键 词：虚拟仪器 LABWINDOWS/CVI 涂镀层 测厚系统 ARM 

分 类 号：TP311[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]