参加查科深(CheckSum)上海技术研讨会构建竞争优势  

在线阅读下载全文

作  者:本刊通讯员 

出  处:《电子与封装》2010年第1期44-45,共2页Electronics & Packaging

摘  要:CheckSum亚洲团队于12月16日在中国上海举行一个技术研讨会,特别致力于对成本敏感的中国测试设备市场。一天的活动将见证该测试解决方案专家盛邀客户,现场了解为什么他们能在现今严峻的经济形势下从CheckSum受益,改进其测试工艺的同时削减成本,并使投资回报最大化。

关 键 词:技术研讨会 竞争优势 上海 测试解决方案 设备市场 经济形势 测试工艺 投资回报 

分 类 号:TN929.533[电子电信—通信与信息系统] TS8-28[电子电信—信息与通信工程]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象