空间辐射粒子引起单粒子翻转率预计  

PREDICTION OF SINGLE EVENT UPSET(SEU) RATES INDUCED BY HEAVY IONS

作　　者：于庆奎[1] 赵大鹏[1] 唐民[1] 

机构地区：[1]北京卫星环境工程研究所

出　　处：《中国空间科学技术》1998年第6期56-62,共7页Chinese Space Science and Technology

摘　　要：空间辐射粒子引起单粒子翻转（ＳＥＵ）率预计的基础是地面粒子加速器模拟试验数据、卫星轨道的粒子辐射环境模型和高能粒子与器件相互作用模型。引起ＳＥＵ的空间辐射粒子包括银河宇宙射线、太阳宇宙射线和地磁俘获粒子。高能粒子通过电离产生多余电子－空穴对引起ＳＥＵ。介绍了计算轨道中ＳＥＵ率的程序ＣＲＥＭＥ。以８０Ｃ３１微控制器为例，根据串列静电加速器地面模拟试验结果，进行了在轨ＳＥＵ率预计。This paper presents the space radiation environment model of heavy ions and gives the method to calculate the SEU rates of ICs on orbit.SEU rates of a 80C31 microcontroller on board satellites in three different orbits are predicted on the basis of the experimental results utilizing Tandem Van De Graff accelerator.

关 键 词：辐射干扰 微电子学 空间辐射环境 单粒子翻转 

分 类 号：V520.6[航空宇航科学与技术—人机与环境工程] TN40[电子电信—微电子学与固体电子学]