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机构地区:[1]中国科学技术大学同步辐射实验室
出 处:《Chinese Journal of Chemical Physics》1998年第4期289-293,共5页化学物理学报(英文)
基 金:国家自然科学基金
摘 要:为研究钆在MgO薄膜表面吸附的特性。首先在经硫代乙酰胺(CH_3CSNH2)处理的GaAs(100)表面外廷生长p型半导体MgO(110)薄膜,然后利用同步辐射光电子能谱研究钆在此表面的吸附。结果发现由于Gd/MgO界面的能带弯曲使Mg2p向高结合能端位移0.4eV,而且从实验结果推断,钆与衬底反应很弱,并且主要以团簇的形式吸附。We have determined the MgO thin film grown on the CH3CSNH2--treated GaAs (100)surface as a p-type semiconductor in terms of the Law of mass action. During the adsorption of Gd on surface, the Mg2p band shifted towards lower kinetic energy of 0.4eV upon the effect of band bending. Moreover, there was a weak reaction between Gd and MgO, and Gd adsorbed on the MgO surface mainly in form of clusters.
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