检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:余晋岳[1] 张明生[1] 周狄[1] 章吉良[1] 张宏[1] 魏福林[2]
机构地区:[1]上海交通大学信息存储研究中心,上海200030 [2]兰州大学应用磁学国家教委部门开放研究实验室
出 处:《物理测试》1998年第1期34-37,共4页Physics Examination and Testing
摘 要:对微型磁性薄膜元件中微磁结构和微磁过程的观察和分析是它的设计和应用的基础。本文介绍了用磁性液体显示微型磁性薄膜元件中磁畴结构的方法,并应用该方法观察和分析了微型条件元件和磁阻(MP)传感元件中的磁化和反磁化过程。It is the basis of design and application to observe and analyse micromagnetic structures and processes in small magnetic thin film elements. In this paper, the method to display magnetic domain structures by magnetic fluids was described, the magnetization and magnetization reversal processes in small stripe and magnetoresistant sensors were observed and analysed.
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