烤瓷烧结对金瓷固定桥边缘适合性的影响  

作　　者：陈思宇[1] 余佳[2] 陈青娅[1] 岳莉[2] 

机构地区：[1]四川大学华西口腔医院修复科,成都610041 [2]四川大学华西口腔医院义齿制作中心,成都610041

出　　处：《四川大学学报（医学版）》2010年第3期536-537,共2页Journal of Sichuan University(Medical Sciences)

摘　　要：目的比较研究烤瓷烧结的每一环节对金瓷固定桥边缘适合性所产生的影响。方法制取下颌第一磨牙缺失的双端固定桥代型15个,在其上方制作Ni-Cr金属支架,依次对每一支架进行预氧化、上第一次遮色瓷、第二次遮色瓷、体瓷、釉瓷等热处理,每次烧结后均将试件就位于代型上用体视显微镜测量其边缘浮升量,比较各步处理对金瓷固定桥边缘适合性的影响。结果两基牙在预氧化处理后边缘浮升量分别增加(14.74±4.31)μm(下颌5)和(15.04±2.95)μm(下颌7),较预氧化前相比差异具有统计学意义(P<0.05),在依次烧结第一次遮色瓷、第二次遮色瓷、体瓷、釉瓷后边缘浮升量的改变无统计学意义(P>0.05)。烧结完成后两基牙边缘浮升量总共较预氧化前分别增加(17.96±7.57)μm(下颌5)和(15.84±6.57)μm(下颌7),差异具有统计学意义(P<0.05)。结论烤瓷烧结对金瓷固定桥边缘适合性的影响主要发生在预氧化阶段,而后续烧结过程不会对其适合性产生显著影响。

关 键 词：金属烤瓷固定桥 边缘适合性 

分 类 号：R783.2[医药卫生—口腔医学]