基于Stellaris^(TM)系列微控制器的ADC滑动平均过采样技术  

作　　者：涂立[1] 汪彦[1] 

机构地区：[1]湖南城市学院计算机科学系,湖南益阳413000

出　　处：《中国新技术新产品》2010年第12期32-33,共2页New Technology & New Products of China

基　　金：湖南省教育厅2009年科技计划资助项目(09c203);湖南省益阳市2009年科技计划资助项目(2009JZ12)

摘　　要：StellarisTM系列微控制器的部分产品中集成了ADC模块。ADC的硬件分辨率为10位,但由于噪音和其它使精度变小的因素的影响,实际的精度小于10位。本文提供了一个基于软件的过采样技术,从而使转换结果的有效位数(ENOB)得到改善,并描述了对输入信号执行过采样的方法,以及在精度和整个系统性能上的影响。

关 键 词：有效位数 ADC模块 过采样 

分 类 号：TN911.72[电子电信—通信与信息系统]