嵌入式存储器自修复方法研究  

作　　者：王丽[1] 

机构地区：[1]南京航空航天大学金城学院,江苏南京211156

出　　处：《硅谷》2010年第3期24-24,共1页

摘　　要：对嵌入式存储器的故障单元进行测试和修复是提高存储器芯片产量和降低成本的有效方法。研究一种高效的嵌入式存储器自修复的方法,通过实验表明该修复方法具有高修复率等优点,它保证嵌入式存储器不仅可测而且可修复,极大地提高芯片的成品率。

关 键 词：嵌入式存储器 内建自测试 内建自修复 

分 类 号：TP302.8[自动化与计算机技术—计算机系统结构]