检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:李戈扬[1,2] 施晓蓉[1,2] 张流强 吴亮[1,2] 李鹏兴[1,2]
机构地区:[1]上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室 [2]中国科学院上海冶金研究所
出 处:《上海交通大学学报》1999年第2期159-161,共3页Journal of Shanghai Jiaotong University
摘 要:采用多靶反应磁控溅射法制备了TiN/AlN纳米多层膜,并通过XRD、TEM和显微硬度计对多层膜的调制结构和力学性能进行了研究.结果表明,反应磁控溅射法制得的纳米多层膜调制界面平直清晰;薄膜的硬度随其调制周期Λ的减小而单调增加,硬度在Λ=2nm时达到最大值HK32.93GPa.TiN/AlN nano multilayers were fabricated using multi target reactive sputtering method. The microstructure and hardness of nano multilayers were detected by XRD, TEM and microindentor respectively. The results show that the modulated interface of nano multilayers prepared in this way is smooth and clear; the hardness of TiN/AlN nano multilayers increases with the decrease of wavelength Λ and the maximum hardness reaches HK32.93 GPa at Λ =2 nm.
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