超大规模集成电路设计中漏泄功耗的最小化和开发利用  

Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design

作　　者：贾红书[1] 

机构地区：[1]中国科学院理化技术研究所

出　　处：《国外科技新书评介》2010年第6期15-15,共1页Scientific & Technology Book Review

摘　　要：超大规模集成电路（VLSI）的耗电量一直以惊人的速度增长。随着耗电量以及对便携式／手持式电子产品需求的不断增加，功率消耗成为VLSI电路设计中的主要问题。以往的电路设计中，动态（开关）电源是IC总功耗的主体，目前漏泄功耗已经成为在VLSI电路总功率消耗的重要组成部分。因此，降低漏泄功率对便携式／如手机及PDA的手持式电子产品尤其重要。

关 键 词：超大规模集成电路 集成电路设计 开发利用 功耗 漏泄 手持式电子产品 最小化 VLSI电路 

分 类 号：TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]