JTAG技术在PCB测试中的应用  

作　　者：刘军[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团第三十八研究所数字技术部,安徽合肥230031

出　　处：《科技信息》2010年第21期J0008-J0009,共2页Science & Technology Information

摘　　要：印刷电路板越来越复杂,完整的测试变得越来越重要。上世纪八十年代,联合测试行动工作组(JTAG)开发出边界扫描的测试规范,这个规范后来被制定为IEEE1149.1-1990标准。边界扫描测试结构提供了一种方法,可以高效的测试PCB上面的器件,基于边界扫描的PCB测试技术是一项成本低廉、高效、高覆盖率的测试技术,较好的满足了复杂PCB板级测试方面的需求。

关 键 词：边界扫描 移位寄存器 板级测试 TAP CONTROLLER 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]