全颌曲面断层片诊断下颌偏斜价值  

作　　者：朱婷婷[1] 米丛波[1] 陈亮[1] 钱雅婧[1] 居曼江.买买提 聂晶[1] 

机构地区：[1]新疆医科大学第一附属医院口腔正畸科,乌鲁木齐市830054

出　　处：《中华实用诊断与治疗杂志》2010年第8期787-789,共3页Journal of Chinese Practical Diagnosis and Therapy

摘　　要：目的:研究下颌偏斜患者X线全颌曲面断层片和头颅后前位定位片下颌骨线距测量项目的相关性,探讨全颌曲面断层片定量分析评价下颌偏斜的应用价值。方法:50例下颌偏斜患者治疗前同期拍摄全颌曲面断层片和头颅后前位定位片,分别测量左右侧下颌骨升支高度、下颌体长度、下颌综合长度,并对测量结果进行统计分析。结果:下颌骨升支高度、下颌体长度及下颌综合长度在X线全颌曲面断层片和头颅后前位定位片上测量值之间均有明显相关性。结论:全颌曲面断层片可用于下颌骨线距测量,诊断下颌偏斜。

关 键 词：下颌偏斜 全颌曲面断层片 头颅后前位定位片 下颌骨线距测量 

分 类 号：R782.2[医药卫生—口腔医学]