国际微电子计量与测试技术研讨会  

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出  处:《计算机与数字工程》2010年第9期F0002-F0002,共1页Computer & Digital Engineering

摘  要:微电子技术是当代革命的先导与核心。微电子技术的发展,离不开微电子计量与测试技术的保障。当前,微电子器伯的发展呈现规模愈来愈大、集成度愈来愈高、速度愈来愈快、结构愈来愈复杂、功能愈来愈强大的特点,

关 键 词:电子计量 测试技术 技术研讨会 微电子技术 国际 集成度 

分 类 号:TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

参考文献:

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