基于93000的单片机最小可测系统设计  

Design of MCU Minimum Testing System Based on 93000

作　　者：李轩冕[1] 胡勇[1] 贺志容[1] 韩红星[1] 

机构地区：[1]武汉数字工程研究所,武汉430074

出　　处：《计算机与数字工程》2010年第9期108-110,共3页Computer & Digital Engineering

摘　　要：为了利用集成电路测试系统实现对单片机的测试,提出了基于93000测试系统的单片机最小可测系统的设计方案,包括硬件连接和软件程序设计,详细介绍了最小可测系统的实现原理和方法。整个系统设计方案简洁、设计成本低廉、使用方便。In order to carry out the MCU test using the IC test system, this article puts forward a design scenario of MCU minimum testing system based on 93000. This scenario includes the design of hardware connection and software program. It introduces in detail the theory and method to carry out the system. The whole design scenario is compact, low cost and convenient to use.

关 键 词：单片机 测试 最小可测系统 

分 类 号：TP312[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]