胡勇

作品数:6被引量:13H指数:2
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基于标准样片的集成电路测试系统校准装置研究
《计算机与数字工程》2019年第1期12-14,225,共4页肖莹 胡勇 周厚平 
标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,而基于标准样片的集成电路测试系统校准装置使得标准样片的量值可以准确可靠地传递到测试系统每个通道上,满足测试系统全通道覆盖的校准需求。论文提出了一种基于标准样片的集成电路测试...
关键词:标准样片 溯源性 校准 
混合集成电路测试系统校准装置架构设计被引量:3
《计算机与数字工程》2015年第1期10-13,35,共5页李轩冕 刘倩 胡勇 
为了实现针对混合集成电路测试系统的校准,论文详细分析了混合集成电路测试系统参量及各参量的校准原理,并提出了混合集成电路测试系统校准装置架构设计的方案。该设计方案具备一定的创新性,可以实现校准装置的通用性、便携性以及校准...
关键词:混合集成电路测试系统 校准 虚拟仪器 
一种数字集成电路标准样片的设计实现
《计算机与数字工程》2015年第1期14-16,154,共4页胡勇 刘倩 周厚平 
标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,论文着重于通过电路设计实现对数字集成电路参数的模拟,并对标准样片测量不确定度评估展开了相应的研究,用以提升标准样片参数的可编程性和量值的准确性,使之适合用于集成电路测试系统的...
关键词:标准样片 溯源性 不确定度评定 定值 
集成电路测试系统总定时精度自动校准程序设计
《计算机与数字工程》2015年第1期29-31,69,共4页刘倩 胡勇 李轩冕 
在高速集成电路测试应用中,当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时,其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns的偏差都将导致整个测试时序严重偏离,使测试结果失去意义。系统总定时精度(OTA)就是反映测试系统提供的信号驱动或比较沿是否在...
关键词:集成电路测试系统 总定时精度 校准 
基于93000的单片机最小可测系统设计
《计算机与数字工程》2010年第9期108-110,共3页李轩冕 胡勇 贺志容 韩红星 
为了利用集成电路测试系统实现对单片机的测试,提出了基于93000测试系统的单片机最小可测系统的设计方案,包括硬件连接和软件程序设计,详细介绍了最小可测系统的实现原理和方法。整个系统设计方案简洁、设计成本低廉、使用方便。
关键词:单片机 测试 最小可测系统 
单片机测试向量生成技术研究被引量:10
《计算机与数字工程》2010年第9期90-92,150,共4页胡勇 李轩冕 贺志容 
集成电路测试是保证产品质量的重要手段,如何检测MCU类复杂大规模集成电路是测试的难点。文章分析了目前单片机测试向量获取的几种方法,并在此基础上提出了一种单片机测试向量生成的新方法,通过将单片机测试向量分成测试激励和测试响应...
关键词:测试系统 测试向量 单片机 
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