周厚平

作品数：4被引量：4H指数：1
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发文主题：溯源性不确定度虚拟仪器集成电路测试系统芯片测试更多>>
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基于标准样片的集成电路测试系统校准装置研究
《计算机与数字工程》2019年第1期12-14,225,共4页肖莹 胡勇 周厚平 
标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,而基于标准样片的集成电路测试系统校准装置使得标准样片的量值可以准确可靠地传递到测试系统每个通道上,满足测试系统全通道覆盖的校准需求。论文提出了一种基于标准样片的集成电路测试...
关键词：标准样片 溯源性 校准 
一种数字集成电路标准样片的设计实现
《计算机与数字工程》2015年第1期14-16,154,共4页胡勇 刘倩 周厚平 
标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,论文着重于通过电路设计实现对数字集成电路参数的模拟,并对标准样片测量不确定度评估展开了相应的研究,用以提升标准样片参数的可编程性和量值的准确性,使之适合用于集成电路测试系统的...
关键词：标准样片 溯源性 不确定度评定 定值 
一种集成电路测试系统在线计量方法研究被引量：1
《计算机与数字工程》2015年第1期36-38,132,共4页周厚平 
论文介绍了一种通过对集成电路测试系统芯片测试过程中的电气参数进行测量的方式分析得到集成电路测试系统的指标准确度,从而实现对集成电路测试系统进行在线计量。该方法反映了集成电路测试系统测试过程中的实际工作状况,其计量结果具...
关键词：芯片测试 在线计量 
虚拟仪器不确定度问题探讨被引量：3
《计算机与数字工程》2010年第9期73-76,共4页周厚平 石坚 
针对虚拟仪器迅速发展中不确定度难以评定的问题,分析了其不确定度的主要来源和评定遇到的主要问题,并提出了相应的解决方案。
关键词：虚拟仪器 不确定度 
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