集成电路测试系统

作品数：47被引量：77H指数：5
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集成电路测试系统高速数字通道校准装置架构设计被引量：2
《舰船电子工程》2022年第2期161-164,共4页胡勇 黄俊杰 姚俊杰 
数字通道测试速率的不断提升以及单块板卡的集成度越来越高是当今大规模集成电路(SOC)测试系统发展的趋势,由于测试系统高速数字通道校准的特殊性以及缺少对高速数字通道校准方法及技术规范的研究,当前高速数字通道普遍缺乏可靠的量值...
关键词：集成电路测试系统 高速 校准 
集成电路测试系统的测量分析MSA方法被引量：1
《集成电路应用》2020年第6期30-31,共2页李建超 钱威成 
江苏省科技企业科技创新课题项目。
分析表明,测试质量和测试系统本身的一些特性有着非常密切的关系。要想使得测试结果的精确性更高,就必须对测试系统本身进行详细的分析与判定。必须做MSA,但是由于MSA的分析方法相对来说比较复杂。由于集成电路本身的一些特性,其测试系...
关键词：集成电路制造 测试系统 MSA分析 
集成电路测试系统MSA方法探索
《电子质量》2018年第12期128-131,共4页涂继云 傅铮翔 何燕青 
集成电路的测试过程是对产品功能、参数评估的重要环节,测试质量直接影响到对产品质量的判断。而测试质量又与测试系统本身的"五性"密切相关,所以要求对测试系统本身进行分析判定,即必须做MSA。但由于MSA的"五性"分析方法相对复杂,以及...
关键词：MSA GRR(重复性、再现性) 偏倚 线性 稳定性 校正球 
集成电路测试系统时间参数测试能力比对被引量：5
《计量技术》2017年第7期24-27,共4页张继平 于利红 赵昭 王酣 
本文结合集成电路测试系统时间参数测试能力比对，对比对过程中所采用的标准和测试方法、被测件的制备及其稳定性考核、比对实施方案的制定、比对结果的评价方法等关键内容进行了详细描述，为集成电路测试系统时间参数的量值溯源提供了...
关键词：集成电路测试系统 时间参数 被测件 比对实施方案 
集成电路测试系统微小微电子参量校准技术研究
《通讯世界》2016年第8期225-225,共1页尹梦宾 
利用集成电路测试系统,可以完成小于1m V和1m A的直流电压和电流的测试。而想要确保测量值准确可靠,还要使用相应的校准技术进行微小微电子参量的校准。基于这种认识,本文对微小微电子参量特性展开了分析,然后对其校准技术展开了研究,...
关键词：集成电路测试系统 微小微电子 参量校准 
某型模拟集成电路测试系统电阻校准方法的研究被引量：1
《电大理工》2016年第2期1-2,共2页张海艳 侯凤媛 王晓飞 
为可靠校准某型模拟集成电路测试系统自检板电阻,本文简要介绍了某型模拟集成电路测试系统的自检板电阻校准方法,并对电阻校准结果的不确定度进行了评估。
关键词：集成电路 测试系统 电阻 校准方法 
数字通道传输延迟时间测量方法研究被引量：10
《计算机工程与科学》2015年第10期1825-1830,共6页顾梦霞 
在集成电路测试领域,传输延迟时间tPD是一个非常重要的参数,其不仅反映集成电路对信号的响应速度,也是集成电路测试系统交流参数测量准确的重要影响因素。详细分析了集成电路测试系统传输延迟时间产生的原因,及其对待测器件交流参数测...
关键词：传输延迟时间 时域反射测量 集成电路测试系统 数字通道 
集成电路测试系统总定时精度自动校准程序设计
《计算机与数字工程》2015年第1期29-31,69,共4页刘倩 胡勇 李轩冕 
在高速集成电路测试应用中,当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时,其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns的偏差都将导致整个测试时序严重偏离,使测试结果失去意义。系统总定时精度(OTA)就是反映测试系统提供的信号驱动或比较沿是否在...
关键词：集成电路测试系统 总定时精度 校准 
集成电路测试系统的竞争冒险被引量：1
《计算机与数字工程》2015年第1期32-35,共4页顾翼 
在集成电路测试领域,因客观存在的通道传输延迟而导致集成电路测试系统对交流参数测量准确度降低是不可避免的。尽管时域反射技术的应用在一定程度上解决了这一问题,但是仍然无法完全解决传输延迟所带来的所有问题。论文以泰瑞达J750EX...
关键词：测试系统 数字通道 竞争冒险 
一种集成电路测试系统在线计量方法研究被引量：1
《计算机与数字工程》2015年第1期36-38,132,共4页周厚平 
论文介绍了一种通过对集成电路测试系统芯片测试过程中的电气参数进行测量的方式分析得到集成电路测试系统的指标准确度,从而实现对集成电路测试系统进行在线计量。该方法反映了集成电路测试系统测试过程中的实际工作状况,其计量结果具...
关键词：芯片测试 在线计量 
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