星用微处理器抗单粒子翻转可靠性预示研究  

An SEU reliability prediction method for microprocessors of space applications

作　　者：李强[1] 高洁[2] 刘伟鑫[3] 

机构地区：[1]上海航天技术研究院第509研究所,上海200240 [2]上海航天技术研究院第804研究所,上海201109 [3]上海航天技术研究院第808研究所,上海201109

出　　处：《核技术》2010年第11期832-835,共4页Nuclear Techniques

摘　　要：运用程序占空比概念,对星用微处理器动态和静态单粒子翻转率之间的关系进行了研究,实现了星用微处理器动态单粒子翻转率的预示。将星用微处理器在轨运行期间满足单粒子翻转指标要求的概率与单粒子翻转率和飞行寿命联系起来,探讨了器件级和系统级的星用微处理器抗单粒子翻转可靠性预示方法。In this article, the relationship between static SEU （Single Event Upset） rate and dynamic SEU rate of microprocessor for satellites is studied by using process duty cycle concept, in an attempt to predict the dynamic SEU rate. By combining the probability of microprocessor for satellites, which meets the requirement of SEU rate, with the SEU rate and flight period, the prediction method of device-level and system-level anti-SEU reliability are given.

关 键 词：星用微处理器 单粒子翻转率 程序占空比 抗单粒子翻转可靠性 

分 类 号：V416[航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程] V443