软X射线辐照引起的InP表面电子态变化  被引量:2

CHANGES OF SURFACE ELECTRON STATES OF InP UNDER SOFT X RAYS IRRADIATION 

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作  者:杨志安[1,2,3] 靳涛[1,2,3] 杨祖慎[1,2,3] 奎热西 崔明启 刘风琴[1,2,3] 

机构地区:[1]新疆大学物理系 [2]中国科学院新疆物理研究所 [3]中国科学院高能物理研究所

出  处:《物理学报》1999年第6期1113-1117,共5页Acta Physica Sinica

基  金:国家自然科学基金

摘  要:采用X光电子能谱(XPS)和紫外光电子能谱(UPS)研究了软X射线辐照InP所产生的表面电子态的变化.实验结果表明,软X射线的照射,对In原子影响不大,而对P原子影响很大.分析了InP的辐照效应机理。Abstract Changes of surface electronic states of InP under 1keV X ray irradiation is studied by X ray photoelectron spectroscopy (XPS) and ultraviolet ray energy spectroscopy (UPS). Our results show that the soft X ray irradiation has little effect on In atoms but much on P atoms. We analysed the mechanism of irradiation and explained the major effect.

关 键 词:磷化铟 表面电子态 XPS UPS 软X射线辐照 

分 类 号:TN304.23[电子电信—物理电子学] TN306

 

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