面向时滞测试生成的改进遗传算法(英文)  

An Improved Genetic Algorithm for Delay-fault Test Generation

作　　者：王勇[1] 陈光[1] 

机构地区：[1]成都电子科技大学CAT室,610054

出　　处：《电子科技大学学报》1999年第2期157-161,共5页Journal of University of Electronic Science and Technology of China

基　　金：电子部预研基金

摘　　要：在提出的无冒险的时滞测试能量函数的基础上，对传统的遗传算法进行了改进，即在搜索中根据进化程度对群体尺寸进行调整来加速收敛，用于时滞测试生成。实验证明该方法是一种较有发展前途的算法。In this paper,the energy functions for hazard-free delay testing are presented, thus the problem of RRT (restricted robust test) generation for delay faults becomes an energy minimization problem. An improved genetic algorithm for RRT generation is given. This algorithm can inhibit premature convergence by modifying the population size with the degree of the evolution. The experiment shows that this method is effective.

关 键 词：时滞故障 测试生成 能量函数 遗传算法 

分 类 号：O242.23[理学—计算数学] TP301[理学—数学]