d-叉树k-FT结构的可靠性分析及冗余单元的分配  

Reliability analysis and redundant elements allocation in k FT architectures of the d ary tree

作　　者：赵天绪[1] 郝跃[1] 周涤非[1] 许冬岗[1] 

机构地区：[1]西安电子科技大学微电子研究所

出　　处：《西安电子科技大学学报》1999年第2期197-200,共4页Journal of Xidian University

基　　金：国防科工委预研基金;国家863计划项目资助

摘　　要：随着芯片面积的增加及电路复杂性的增强，系统的可靠性逐渐下降．为了保证有较高的可靠性，人们将容错技术引进了集成电路的设计中．文中分析了ｄ－叉树的ｋ－ＦＴ结构的可靠性，同时讨论了如何分配冗余单元才能使系统具有较高可靠性的问题．An increase in chip area and circuit complexity leads to a decrease in the system reliability. In order to get a better reliability, the fault tolerant technique is introduced into the IC design. In this paper, the reliability in k FT architectures of the d ary tree is analysized, and the problem of how to allocate redundant elements in order to make the system have a better reliability is discussed.

关 键 词：d-叉树 可靠性分析 覆盖因子 冗余单元分配 VLSI 

分 类 号：TN470.6[电子电信—微电子学与固体电子学]