Nuclear Physics and Interdiscipline —Electronic Energy Loss Effect on Damage Production in ZnO Thin Films Induced by Xe-ions Irradiation  

作　　者：Wang Zhiguang Zang Hang Wei Kongfang Sun Jianrong Yao Cunfeng Shen Tielong Ma Yizhun Pang Lilong Zhu Yabin 

出　　处：《近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报：英文版》2009年第1期75-75,77,78,共3页IMP & HIRFL Annual Report

关 键 词：氧化锌薄膜 氙离子 辐照诱导 生产损失 电子能量 跨学科 核物理 损伤 

分 类 号：O571.33[理学—粒子物理与原子核物理] TN304.21[理学—物理]