双源两次X射线荧光测量法鉴定金饰品质量  

Quality Inspection of Gold Ornaments by X Ray Fluorescence Analysis With Double Source

作　　者：严振庄[1] 谢东[1] 

机构地区：[1]河北师范大学物理系

出　　处：《核电子学与探测技术》1999年第4期314-316,共3页Nuclear Electronics & Detection Technology

摘　　要：介绍了用放射性同位素Ｘ射线荧光分析法检查２４ｋ金饰品质量的简便方法。In this paper, quality inspection method of 24K gold ornaments by radiation isotope X ray fluorescence analysis is introduced . In this method double radiation source of Am 241 and Pu 238 are used.

关 键 词：金饰品 X射线荧光分析 检测法 无损检测 

分 类 号：TS934.3[轻工技术与工程] O657.34[理学—分析化学]