基于TSP的低功耗低费用测试方法  

Low-power and Low-cost Test Approach Based on TSP

作　　者：张云[1] 尤志强[1] 邝继顺[2] 彭福慧 

机构地区：[1]湖南大学软件学院,长沙410082 [2]湖南大学计算机与通信学院,长沙410082

出　　处：《计算机工程》2011年第4期281-283,共3页Computer Engineering

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60673085,60773207);教育部留学回国人员科研启动基金资助项目

摘　　要：扫描链阻塞技术可以有效地降低电路测试时的峰值和平均功耗,但是扫描测试应用时间有所增加。为了解决这一问题,通过有效利用测试向量之间的相容性,提出一种基于TSP问题的降低测试应用时间的方法。实验结果表明,该方法能够较大幅度地降低测试应用时间。Scan chain disable techniques effectively reduce peak and average test power dissipation. But the test application time is longer. To solve this problem, this paper proposes an approach based on TSP problem to minimize the test application time by exploring the compatibility among the test vectors. Experimental results demonstrate that this approach reduces test application time drastically on various benchmark circuits.

关 键 词：可测性设计 扫描链阻塞技术 无关位填充 确定性测试 低费用测试 

分 类 号：TP302.8[自动化与计算机技术—计算机系统结构]