检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]合肥工业大学计算机与信息学院,合肥230009 [2]阜阳师范学院物理与电子科学学院,安徽阜阳236041
出 处:《应用科学学报》2011年第1期78-82,共5页Journal of Applied Sciences
基 金:教育部博士点基金(No.200803590006);安徽省海外高层次人才基金(No.2008Z014);安徽省高校省级自然科学研究基金(No.KJ2010B428;No.2008jq1176;No.KJ2010A280)资助
摘 要:多扫描链测试技术能有效减少测试用时和压缩测试数据,但该技术需要较多的数据输入通道,因而会导致测试成本增加.为了解决这种矛盾,一种多扫描链嫁接机制被提出.该方案错位产生基准向量,根据向量间的相容性合并扫描链的驱动端口.实验结果表明,所提方案在保持多扫描链高速测试的同时既能减少测试数据输入通道,又可获得较高的测试数据压缩率.Although multiple scan chains can effectively decrease test time and reduce the test data, it requires more input channels so that the test cost is increased. To solve the problem, a grafting mechanism with multiple scan chains is proposed, which generates base vectors using a dislocation method in order to merge as many driving ends as possible based on correlation in the test vector. Experimental results show that the proposed scheme uses fewer channels for the test data input and provides a higher compression ratio while maintaining high-speed testing for multiple scan chains.
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