基于C8051F系列单片机提高ADC分辨率的方法  

Method of Improving the ADC Resolution Based on C8051F

作　　者：高杉[1] 叶强[2] 刘凌[3] 

机构地区：[1]南京信息职业技术学院电子学院,江苏南京210046 [2]南京体育学院运动人体科学系,江苏南京210014 [3]南京邮电大学计算机学院,江苏南京210046

出　　处：《信息化研究》2011年第1期67-69,共3页INFORMATIZATION RESEARCH

摘　　要：单片机的很多应用都需要使用模/数转换器(ADC)进行测量。本文着重介绍C8051F系列单片机的AD转换子系统以及提高AD转换分辨率的方法,内容包括根据要增加的分辨率计算过采样率、根据要增加的SNR增加过采样率。并举实例介绍过采样和求均值的实现方法。Many applications of MCU need using A/D converter to process measuring. We mainly introduced the ADC subsystem of C8051F and a method of improving the ADC resolution with it, including computing the oversam- pling ratio according to the resolution and adding oversampling ratio according to the SNR need to add. Finally a sample of the method of oversampling and evaluating mean-value is given.

关 键 词：C8051F ADC分辨率 过采样 求均值 

分 类 号：TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]