泰克携手ANSYS举办“仿真＋测试”研讨会  

出　　处：《测控技术》2011年第3期122-122,共1页Measurement & Control Technology

摘　　要：2011年2月24日，泰克公司在北京宣布，将与ANSYS公司携手，举办高速串行设计从软件仿真到硬件测试的联合研讨会，帮助高速数字系统研发工作者应对日益严格的设计挑战，提升产品性能的同时加速开发周期。此次研讨会将分别在台北（3月8日）、北京（3月10日）、上海（3月15日）和深圳（3月17日）四地举办。

关 键 词：ANSYS公司 泰克公司 硬件测试 软件仿真 高速数字系统 串行设计 开发周期 产品性能 

分 类 号：TP311.52[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]