光学码盘的检验  

作　　者：张红胜[1] 杨进堂[1] 

机构地区：[1]中国科学院长春光学精密机械研究所,长春130022

出　　处：《计量技术》1999年第10期25-27,共3页Measurement Technique

摘　　要：本文着重介绍了检验光学码盘三种误差 （刻划误差、均匀性误差、码道关系误差）

关 键 词：光学码盘 刻划误差 测角仪器 码道关系 误差 

分 类 号：TH741.23[机械工程—光学工程]