基于MCU的74系列芯片检测仪  

作　　者：孟超[1] 陈兵[1] 

机构地区：[1]安阳师范学院物理与电气工程学院,455000

出　　处：《金色年华（下）》2011年第5期66-66,共1页Golden Times

摘　　要：本系统以AT89C51为核心，由键盘、LCDl602显示、电源控制模块组成，根据数字系统测试与可测性的原理以及集成芯片的真值表推导出测试程序，能完成对TTL74／54系列和CMOS4000，4500系列数字集成芯片的功能测试。

关 键 词：单片机 真值表 集成芯片 测试仪 

分 类 号：TN43[电子电信—微电子学与固体电子学]