C-V测量技术的进展  

作　　者：Edward H. Nicollian 黄子伦 

机构地区：[1]北卡罗来纳大学

出　　处：《微电子学》1990年第4期48-51,70,共5页Microelectronics

摘　　要：本文论述了可以同时进行高/低频电容测量的改进方法,采用这类测量技术可以避免先期方法带来的麻烦。

关 键 词：C-V电容 测量技术 电容测量仪器 

分 类 号：TM934.2[电气工程—电力电子与电力传动]